아래 그림은 CP와 CPK의 지표를 설명한 그림입니다.
CP의 통계 지표 기준과 CPK의 통계 지표가 다른 점에 유의 하십시오.
CP가 높다고 해서 공정 능력이 무조건 좋다고 할 수 없습니다.
즉 CPK의 결과도 매우 중요하다고 할 수 있습니다. 공정능력의 치우침정도(Katayori)를 잘 관리해야 최적의 제품 품질상태를 유지할 수 있습니다.
팡데이터는 추가적으로 규격 상한과 하한 둘중 하나만 있는 경우에 대해서도 CPK를 지원합니다.
생성된 SPC Input을 사용하여 제품별, LOT별 제품 검사 결과를 등록한다
제품 검사 등록시 자동으로 통계 지표와 SPC지표들이 계산되고 이상이 있는 경우 문제 검사 결과 항목이 표시 된다.
왼쪽 리스트 화면은 SPC 마법사를 통해 생성된 SPC Input의 리스트 보여준다.
생성된 SPC Input을 Click하여 검사 결과를 등록하는 페이지를 연다.
열린 페이지는 아래와 같이 입력 화면의 상태로 열린다.
아래 예제는 MK1400이란 제품의 제품 출고 검사를 예로 들었다.
검사 항목은 Pinhone 12.0mm AY+X-항목과 Pinhole 12.0mm BY+X+ 2개로 구성하였다.
MK1400 제품의 MC21-08005란 LOT의 제품 검사 결과 제목 입력.
MK1400제품의 검사 항목중 Pinhole 12.0mm AY+X-의 검사 항목과 설정된 USL, LSL 표시. 이 타이틀을 Click하면 해당 검사 항목에 대한 LOT별 공정능력 분석 화면으로 이동 된다.
입력시 자동으로 계산된 샘플 데이터에 대한 통계 결과와 공정능력 지표가 자동으로 처리 된다.
입력한 검사 결과의 USL,LSL범위 초과 여부를 표시한다.
빠르고 편리한 검사 결과 등록을 위한 키보드 사용 설명(Paste의 경우 텍스트 파일에 저장된 내용에서 Tab Separator로 저장된 파일은 바로 붙여 넣기를 할 수 있다).
LOT별 검사 결과 등록 시 특이 사항과 같은 내용을 입력한다.
모든 입력데이터가 등록되면 저장 버튼이 활성화 된다. 단 이미 저장 완료된 건은 '수정'버튼으로 변경 되어 타이틀과 설명을 수정할 수 있다. 단 샘플 결과 데이터는 삭제나 수정을 할 수 없다.
저장된 LOT별 검사 결과를 검색할 수 있다.
USL, LSL을 벗어난 검사 결과가 있는 데이터가 있는 경우 바탕색이 표시 된다.
신규 등록 화면으로 초기화 된다.
등록 된 검사 결과 리스트 화면 감추기.
SPC 관리 분석은 SPC Input 기능에서 상단 메뉴를 크릭하면 'SPC 비교 분석' 을 통해서 LOT별 SPC 트렌드를 사용할 수 있다.
SPC 비교 분석에서는 SPC의 각종 통계 지표에 대한 LOT별 트렌드 분석 기능을 제공한다.
상단메뉴에서 좌측의 세줄 버튼을 Click하면 왼쪽 그림과 같이 메뉴가 나타난다.
SPC Input 메뉴는 SPC 비교 분석 화면에서 다시 SPC Input화면으로 이동한다.
SPC 비교 분석 클릭 시 등록된 LOT별 트렌드를 확인할 수 있다.
조회기간에 따른 LOT별 SPC통계 지표 트렌드가 출력된다.
SPC Input에 등록된 모든 검사 항목의 공정능력을 동시에 분석한다.
왼쪽 아래 통계 지표 버튼을 Click하여 다양한 SPC통계 지표를 선택할 수 있다.
조회기간 버튼이나 Slider를 사용하여 빠르고 쉽고 단기, 장기 트렌드도 분석할 수 있다.
오른쪽 아래 차트 타입을 변경하여 Table형식이나 트렌드로 변경하여 SPC 통계 지표를 확인할 수 있다.
SPC Input 기능에서 상단의 항목 영역을 Click하면 바로 개별 SPC상세 관리 분석 기능으로 연결 된다.
Click시 각각의 개별 검사 항목에 대한 SPC 통계 지표를 분석할 수 있다.
2.2.1. LOT별 개별 검사 결과 입력 데이터의 USL,LSL 범위에서 위치 표현
2.2.3. LOT별 SPC 통계 지표 트렌드 분석
2.2.2. 시간대별 등록된 검사 결과 SPC 통계 지표 트렌드
2.2.4. 원시 데이터 또는 생성된 통계 데이터 기반 히스토그램(분포도) 분석
2.2.5. 시간대별 등록된 데이터의 테이블 형식의 통계 지표 조회